编号：C871–08a用于可浸出氯化物、氟化物、硅酸盐及钠离子的绝热材料的化学分析方法本标准以固定的文件编号C871发行，紧跟文件编号后的数字代表早先版本的年份或者是最后一次修订的年份，括号内的数字代表最终核定的年份，上标ε代表在更改自上次修订或重新核定编辑。1.范围1.1这些测试方法包括测试绝热材料中百万分之一可浸出氯化物、氟化物、硅酸盐及钠离子含量测试的实验室操作程序。1.2每种离子的分析方法的选择须基于现有实验室能力及条件的，须考虑仪器设备的可得性及对萃取液中离子浓度的合适性。1.3标准中数值的单位为英寸-磅，括号中给出的数值经过数学变换成国际单位制只提供参考不视为标准。1.4本标准并非旨在解决所有与其使用相关的可能的安全问题。在使用前，建立适当的安全及健康措施并确定适用的监管机制是本标准用户的职责。2.引用文件2.1美国材料试验学会标准：C168绝缘相关术语C692评定热绝缘材料对奥氏体不锈钢外部应力腐蚀开裂趋势影响的标准试验方法C795与奥氏体不锈钢接触用绝热材料C871用于可浸出氯化物、氟化物、硅酸盐及钠离子的绝热材料的化学分析方法D1428火焰光度法分析水及水垢中的钠和钾的测试方法2.2美国自来水厂协会标准：4500-SiD二氧化硅的钼蓝分析法4500-SiE二氧化硅的杂多蓝分析法3.术语3.1定义——请参阅术语定义C168。4.试验方法综述4.1样品于沸水中保持30min，过滤后的溶液用于定量测试氯化物，氟化物，硅酸盐和钠离子。4.2氯化物的分析：4.2.1安培—库仑滴定测试。4.2.2由于使用特定的有害的物质，滴定已不再被推荐为ASTM国际组织所要求试验方法。4.2.3特定离子电极的测试。4.3氟化物的分析：4.3.1特定离子电极的测试方法。4.3.2SPADNS（1,8-二羟基-2-(4-硫代苯基偶氮)萘-3,6-二磺酸三钠）比色检测法。4.4硅的分析：4.4.1原子吸收光谱法。4.4.2比色法——AWWA的分析方法—二氧化硅的钼蓝分析和二氧化硅的杂多蓝分析。4.5钠的分析4.5.1火焰光度法测试4.5.2原子吸收光谱法测试4.5.3钠离子选择性电极5.意义及使用5.1研究显示，对于卤素离子：包括氯离子和氟离子，当在奥氏体不锈钢表面储备和浓缩溶液时，由于缺少抑制离子，将发生外部应力腐蚀导致开裂现象（ESCC）。特别针对ESCC，被广泛应用的两种规格的绝缘材料的评估允许使用C692和C871两样方法，在评估可提取离子时，均要求包括氟离子和氯离子。5.2氯化物（氟化物）可以部分或同时是绝缘材料和周围环境的组成成分，绝缘材料或环境的水分可以导致氯化物（氟化物）在绝缘材料中的迁移并热集中在不锈钢表面。5.3无论来自本身或是外源，发现绝缘材料中的钠离子和硅酸盐离子有抑制由氯离子（氟离子）引起的外部应力腐蚀造成的开裂。而且，控制绝缘材料中钠离子和硅酸盐离子同氯离子（氟离子）的比例在某一比值，绝缘材料中氯化物（氟化物）的存在引起的外部应力腐蚀开裂将被阻止。6.试剂6.1试剂纯度——测试中所用到的化学品都必须为试剂级纯度。除非另有说明，所有可获得规格的试剂均应符合美国分析化学学会分析试剂委员会的具体要求。只有在事先确定试剂的纯度足够高且不影响分析准确度的情况下才允许使用其他等级的试剂6.2水纯度——蒸馏水或去离子水，电导率小于2.5uS/cm，氯离子含量小于0.1ppm。7.抽样7.1对于低氯的绝缘材料，为了避免在拿和处理样品时汗液的氯污染，须带上聚乙烯手套。不要使用含氯如氯丁橡胶或赛纶（PVC）或在生产过程中使用到金属氯化物的材料。使用前，手套冲洗两次，排水并在无卤干净的环境下晾干，储存于干净密闭的容器或塑料封皮中。7.2清洁、干燥且无明显污染物的双手适用于处理超过25ppm的材料样品。8.试料8.1用于特殊制备及浸出的设备及工具必须干净且不含氟、氯、硅、钠及可能影响化学测试的酸性或碱性物质。除非另有详细说明，所有分析都必须使用蒸馏水。8.1.1对于压模绝缘材料，可以使用锯条或类似的工具，在每件绝缘材料的整个跨度截取几个截面进行测试，每个样品都必须代表材料的整个截面，但金属面屏包括金属镀层不包括其中。对于薄硅片材料建议切割成厚度范围1/16至1/8英寸（1.6和3.2毫米）。切削足够的材料，准备2份20g的样品。8.1.2全纤维状材料可...