IGBT模块认证测试规范V2.0

IGBT模块认证测试规范拟制:张广文日期:2011-03-07审核:姜明日期:测试部测试规范英威腾电气股份有限公司测试部规范编码:版本:V2.0密级:机密生效日期:2011.3页数:40页__________批准:董瑞勇日期:__________更改信息登记表规范名称:IGBT模块认证测试规范规范编码:版本更改原因更改说明更改人更改时间V2.0规范升级新拟制测试项目,升级原测试项目内容及标准。张广文2011.3.7评审会签区:人员签名意见日期董瑞勇吴建安唐益宏林金良张波目录1.目的..................................................................................................................................42.范围..................................................................................................................................43.定义..................................................................................................................................44.引用标准..........................................................................................................................55.测试设备..........................................................................................................................66.测试环境..........................................................................................................................67.测试项目..........................................................................................................................77.1规格参数比对...........................................................................................................77.2封装结构测试...........................................................................................................87.2.1封装外观检查...................................................................................................87.2.2封装外形尺寸测试...........................................................................................97.2.3基板平整度测试...............................................................................................97.2.4封装内部结构测试...........................................................................................117.3晶体管电特性测试...................................................................................................127.3.1集-射极耐压VCES测试...............................................................................127.3.2IGBT集-射极饱和压降VCE(sat)测试.......................................................137.3.3IGBT栅-射极阀值电压VGE(th)测试.......................................................147.3.4IGBT内置二极管正向压降VF测试...........................................................157.4Ices和IR测试...........................................................................................................167.5绝缘耐压测试...........................................................................................................187.6高温电应力老化测试...............................................................................................207.7高低温老化测试.......................................................................................................217.8NTC热敏电阻特性测试...........................................................................................227.9驱动波形测试...........................................................................................................227.9.1驱动波形质量测试.................

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