［经典］磁共振平扫与磁敏感加权成像在弥漫性轴索损伤诊断和评价中的对比分析磁共振平扫与磁敏感加权成像在弥漫性轴索损伤诊断和评价中的对比分析(云南省大理州人民医院放射科MRI室云南大理州671000)❷❷【摘要】目的:探讨磁共振平扫序列T1WI、T2WI、FLAIR与磁敏感加权成像在脑弥漫性轴索损伤(DAI)患者中发现病变的能力。方法对26例临床确诊为DAI的脑外伤患者，在外伤后12小时至8天内行MRI常规平扫及SWI扫描，统计患者病灶数量，对比分析各序列在发现病变的能力上有无明显差异。结果MRI常规平扫以FLAIR发现的病变数最多，为109灶，SWI序列发现病变427灶，SWI发现病变数量明显多于MRI常规扫描。结论SWI在DAI患者中发现病变的能力远高于MRI平扫，对DAI的诊断、治疗及预后的判断有很大价值。【关键词】弥漫性轴索损伤；磁敏感加权成像；磁共振成像❷【中国分类号】R651.15【文献标识码】B【文章编号】1044-5511(2011)09-0194-02❷❷［Abstract】ObjectiveToinvestigatethemagneticresonancescansequenceT1WI,T2WI,FLAIRandsusceptibilityweightedimagingindiffuseaxonalinjury(DAI)lesionswerefoundintheability.Methods26patientsdiagnosedwithtraumaticbraininjurypatientswithDAI,12hoursafterthetraumato8days,withMRIscanandSWIroutinesean,thenumberoflesionsinpatientswithstatistics,comparativeanalysisofthesequencesintheabilitytofindlesionswithoutsignificantdifference・MRIscanresultstoconventionalFLAIRlesionsfoundinthelargestnumberof109lesions,SWIsequencefoundlesions427lesions,SWIwassignificantlymorethanthenumberoflesionsfoundinconventionalMRIscanning・ConclusionSWIlesionsfoundinpatientswithDAIismuchhigherthantheabilityofMRIscan,thediagnosisofDAI,treatmentandprognosisofgreatvalue・❷[Keywords】diffuseaxonalinjury;susceptibilityweightedimaging;magneticresonanceimaging・❷❷弥漫性轴索损伤(diffuseaxonalinjury,DAI)又称脑白质剪切你是由脑灰口质受到剪切力作用后，引起的以脑内轴索广泛水肿、撕裂以及轴索并行小血管破裂为特征的一种严重的创伤性脑损伤。随着交通事故的发生增多，交通事故导致的颅脑外伤也H益增多，DAI的发病率呈明显上升趋势，在重型颅脑损伤中DAI占28%〜42%,死亡率达42%〜62%<sup>[l]❷，对DAI早期作出止确诊断和评估对临床治疗及预后具有重大意义。MRI应用于颅脑损伤诊断后，特别是磁敏感加权成像(susceptibilityweightedimaging,SWI)的应用提高了DAI的影像学诊断率，磁敏感加权成像是一组利用组织磁敏感性不同而成像的技术,SWI对顺磁性血红蛋口代谢产物的显示非常敏感。本文主要对磁共振平扫与SWI在DAI的诊断和评价的对比分析进行阐述。❷1.资料和方法❷1.1临床资料及病例纳入标准：2009年5月至2010年11月在我科进行MRI检查、资料完整的26例临床诊断为DAI的患者中，男18例，女8例；年龄11〜62岁，平均30.6岁，其中车祸伤17例，坠落伤4例,钝器伤3例，其它2例。所有患者临床诊断符合DAI的诊断标准，患者均有明确的脑外伤史，伤后有进行性意识障碍，体检无明确神经定位体征，伤后昏迷时间皆大于6h,冃既往无脑损伤史、中枢神经系统畸形或发育障碍、脑出血或脑梗死、枪弹伤等，患者外伤后出现严重的意识和认知障碍，有瞳孔征象但无明确神经系统定位体征或存在较为突出的脑干征象以及病情严重程度与颅内压升高程度不符等明显的临床症状，创伤恢复后期出现弥漫性脑萎缩的MRI表现<sup>[2>3]</sup>o❷1.2MRI检查仪器及方法：所有患者均在外伤后12小时~8天内进行MRI常规检查，并加扫SWI序列，检查釆用西门子Avonto1.5T超导MRI扫描仪，采用头部八通道线圈；所有患者行矢状面T1WI和横断面T1WI(TR=400ms,TE二14ms)、快速口旋回波(fastspinecho,FSE)T2WI(TR二3500ms,TE二100ms)、流动衰减反转恢复序列(FLAIR)扫描(TR二8800,TE二145,TI=750),F0V=240mmX240mm,层厚5.0mm,层间距1.5n)m,各横轴位MR扫描定位层面相同。SWI序列参数如下：TR二40ms,TE二25ms,FA二15°,层厚2.0mm,FOV二240mmX240mm,矩阵512X384。❷1.3图像及数据后...
