一种全温下残影评价的测试系统研究袁烨李静潘立豹孙勇王松滨摘要：针对残影测试使用点式亮度计无法满足测试要求，面式亮度计价格昂贵且高温测试不易推广的问题，提出了一种新的残影测试系统。通过该系统对同样的样品和面亮度计进行对比测试，测试精度较高，测试误差小，测试结果一致性较好。该系统主要由电脑、光信号探测器、光电信号处理模块3部分组成，该系统可以对显示产品进行常温、高温的残影测试，系统性能可靠、操作简便、测量精度高、价格便宜，并且解决了目前高温残影测试无法定量的问题，适用于特殊环境下的残影测试评价。关键词：残影；亮度计；对比率；高温中图分类号：O436文献标志码：AAbstract：Inviewoftheproblemthattheusepointluminometercannotmeetthetestrequirements，thesurfaceluminancemeterisexpensiveandthehightemperaturetestisnoteasytobepopularized，anewresidualshadowtestingsystemisputforward.Throughthesystem，thesamesampleandsurfaceluminancemeterarecomparedandtested，thetestaccuracyishigh，thetesterrorissmall，andthetestresultisone.Thesexisgood.Thesystemconsistsofthreeparts：thecomputer，thelightsignaldetectorandthephotoelectricsignalprocessingmodule.Thesystemcantestthedisplayproductsatnormaltemperatureandhightemperature.Thesystemhasreliableperformance，easyoperation，highmeasurementprecisionandcheapprice，anditcansolvetheproblemthatthepresenthightemperatureshadowtestcannotbequantified.Theevaluationofresidualshadowtestinspecialenvironment.Keywords：Residualimage；luminancemeter；contrastratio；hightemperature0引言薄膜場效应晶体管型液晶显示屏（ThinFilmTransistor-LiquidCrystalDisplay，TFT-LCD），因其可以高速、高亮、高对比度显示屏幕信息，被广泛应用于笔记本电脑、桌面显示器、液晶电视、移动显示终端等领域。而随着人们对显示质量的要求不断提高，液晶面板存在的显示问题——残影，是业界持续改善的一项重要不良。当液晶显示器长时间停留于某一画面再切换到另一画面时，原有画面形成影像残留，称为“残影”。引起残影的现象有很多，当液晶组分或取向膜稳定性较差时，由于离子吸附构成内建电场容易形成残影，而当驱动信号产生非对称直流成分或一定程度的TFT漏电流时，也会形成残影。现有主流残影的发生机理中，主要包括两个因素，一个是液晶面板中包括的离子型不纯物，第二是形成偏置电压，二者缺一不可。残影现象很难消除，因此针对残影进行测试评价是业内须解决的问题，VESA305—2标准针对残影测试提出了方法，但对测试仪器的选择没有规定。该方法要求在1min之内数据采集完毕，由于黑场亮度比较低，在实际的测试过程中，使用辐射式亮度计测试时间非常长，可以达到2min测试一个点，无法满足测试要求，另外，有些产品的残影在不同位置，无法及时进行测试。使用面亮度计可以针对整个面进行同时测试，但面亮度计价格昂贵，且不能进行高温下测试，鉴于这种情况，提出了一种新的残影测试系统，该系统最多可以同时对16个点进行测试。1残影评价试验1.1残影评价按照VESA305—2标准，测试点位置和残影评价图像分别如图1和图2所示。残影评价公式见（1），其中公式（1）代表黑场残影残留。RB=max[（LB0（KB1+KB2），KB0（LB1+LB2）]/min[（LB0（KB1+KB2），KB0（LB1+LB2）]……（1）式中：RB——黑场残影的对比度，无量纲。LB0——黑场P0点的亮度，单位为cd/m2。LB1——黑场P1点的亮度，单位为cd/m2。LB2——黑场P2点的亮度，单位为cd/m2。KB0——显示棋盘格图像1h后黑场P0点的亮度，单位为cd/m2。KB1——显示棋盘格图像1h后黑场P1点的亮度，单位为cd/m2。KB2——显示棋盘格图像1h后黑场P2点的亮度，单位为cd/m2。该方法要求在1min之内数据采集完毕，由于黑场亮度比较低，在实际的测试过程中，使用辐射式亮度计测试时间非常长，可以达到2min测试一个点，无法满足测试要求，另外，有些产品的残影在不同位置，无法及时进行测试；使用面亮度计可以针对整个面进行同时测试，但面亮度计价...