名称：E112-96（2004年重新核准）——平均晶粒度标准测试方法1这一标准是根据E112条款颁布的；E112之后紧跟的数字表示最初编辑的年份，或者表示最后修改的年份（如果有修改），括号内数字（如果有的话）则表示最终批准的年份上标ε1表示从最后修改或批准之日起的一次编辑更换。该标准被国防部各相关部门认可使用。简介这些金属平均晶粒度测试方法根本上是测量过程。因为这一过程完全是独立于金属及其合金材料的几何学问题。实际上，这些基本方法也应用于评估非金属的平均晶粒、晶体及晶胞尺寸。如果材料组织结构接近于标准对比图谱中的某一个图的话，可以采用对比法。截距法和求积法也经常应用于确定平均晶粒度。然而，对比法不能应用于单个晶粒的测量。1范围1.1本标准规定了金属组织的平均晶粒度表示及评定方法。这些方法也适用晶粒形状与标准系列评级图相似的非金属材料。这些方法主要适用于单相晶粒组织，但经具体规定后也适用于多相或多组元和试样中特定类型的晶粒平均尺寸的测量1.2本标准使用晶粒面积、晶粒直径、截线长度的单峰分布来测定试样的平均晶粒度。这些分布近似正态分布。本标准的测定方法不适用于双峰分布的晶粒度。双峰分布的晶粒度参见标准E1181。测定分布在细小晶粒基体上个别非常粗大的晶粒的方法参见E930。1.3本标准的测量方法仅适用平面晶粒度的测量，也就是试样截面显示出的二维晶度，不适用于试样三维晶粒，即立体晶粒尺寸的测量。1.4试验可采用与一系列标准晶粒度图谱进行对比的方法或者在简单模板上进行计数的方法。利用半自动计数仪或者自动分析晶粒尺寸的软件的方法参见E1382。1.5本标准仅作为推荐性试验方法，它不能确定受检材料是否接收或适合使用的范围。1.6测量数值应用SI单位表示。等同的英寸－英镑数值，如需标出，应在括号中列出近似值.1.7本标准没有列出所有的安全事项。本标准的使用者应建立适合的安全健康的操作规范和使用局限性。1.8章节的顺序如下：章节顺序范围1参考文献2术语3重要性和用途4使用概述5制样6测试7校准8显微照相的准备9程序比较10平面法（JEFFRIES）11普通截取法12海恩线截取法13圆形截取法14Hilliard单环法14．2Abrams三环法14．3统计分析15非等轴晶试样16含两相或多相及组元试样17报告18精度和偏差19关键词20附件ASTM晶粒尺寸等级基础附件A1晶粒度各测量值之间的换算附件A2铁素体与奥氏体钢的奥氏体晶粒尺寸附件A3断口晶粒尺寸方法附件A4锻铜和铜基合金的要求附件A5特殊情况的应用附件A6附录多个实验室的晶粒尺寸判定结果附录X1参考附件附录X22、参考文献2.1ASTM标准E3金相试样的准备E7金相学有关术语E407微蚀金属和合金的操作E562计数法计算体积分数的方法E691通过多个实验室比较决定测试方法的精确度的方法E883反射光显微照相指南E930截面上最大晶粒的评估方法（ALA晶粒尺寸）E1181双峰分布的晶粒度测试方法E1382半自动或全自动图像分析平均晶粒度方法2.2ASTM附件2.2.1参见附录X23术语3.1定义－参照E73.2本标准中特定术语的定义：3.2.1ASTM晶粒度——G,通常定义为公式（1）NAE为100倍下一平方英寸（645.16mm2）面积内包含的晶粒个数，也等于1倍下一平方毫米面积内包含的晶粒个数，乘以15.5倍。3.2.2＝2.13.2.3晶界截点法——通过计数测量线段与晶界相交或相切的数目来测定晶粒度（3点相交认为为1.5个交点）3.2.4晶粒截点法——通过计数测量线段通过晶粒的数目来测定晶粒度（相切认为0.5个，测量线段端点在晶粒内部认为0.5个）3.2.5截线长度——测量线段通过晶粒时与晶界相交的两点之间的距离。3.3符号两相显微组织中的基体晶粒测量面积截面上的平均晶粒晶粒伸长率或纵向晶粒伸长率平均平面晶粒直径（平面Ⅲ）平均空间（体积）晶粒直径平面计算方法的JEFFRIES乘数显微晶粒度级别数平均截距在两相显微组织中的基体晶粒上的平均截距非等轴晶粒纵向平均线截距非等轴晶粒横向平均线截距非等轴晶粒面积平均线截距基本长度32mm，用于在微观和宏观截线法说明G与之间关系测试线长度放大倍数图谱中的放大倍数视场个数两相显微组织中的测试线截过的晶粒数目1X每平方毫米的晶粒数两相显微组织中的1X每平方毫米的晶粒数目100X每平方...