金属平均晶粒度测定方法引言本标准规定了金属材料平均晶粒度的基本方法。由于纯粹以晶粒几何图形为基础，与金属和合金本身无关。因此，这些基本方法也可以用来测量非金属材料中晶粒、晶体和晶胞的平均尺寸。如果材料的组织形貌非常接近某一个标准系列评级图，可以使用比较法。测定平均晶粒度常用比较法，也可以用截点法和面积法。但是，比较法不能用来测量单个晶粒。1范围1.1本标准规定了金属组织的平均晶粒度表示及评定的三种方法——比较法、面积法和截点法。这些方法也适用于晶粒组织形貌与标准系列评级图相似的非金属材料。这些方法主要适用于单相晶粒组织，但也适用于多相或多组元试样中特定类型组织的晶粒平均尺寸的测量。1.2本标准使用晶粒面积、晶粒直径、截线长度的单峰分布来测定式样的平均晶粒度。这些分布近似正态分布。本标准的测定方法不适用于双峰分布的晶粒度。双峰分布的晶粒度参见标准E1181。测定分布在细小晶粒基体上个别非常粗大的晶粒的方法参见E930。1.3本标准的测量方法仅适用平面晶粒度的测量，也就是试样截面显示出的二维晶度；不适用于试样三维晶粒，即立体晶粒尺寸的测量。1.4试验可采用与一系列标准晶粒度图谱进行对比的方法或者在简单模板上进行计数的方法。利用半自动计数仪或自动图象分析仪测定晶粒尺寸的方法参见E1382。1.5本标准仅作为推荐性试验方法，它不能确定受检材料是否接收或适合使用的范围。1.6测量数值应用SI单位表示。等同的英寸－英镑数值，如需标出，应在括号中列出近似值.1.7本标准没有列出所有的安全事项，只是一些使用的注意事项。本标准的使用者在使用前应掌握较合适的安全健康的操作规范和使用时限制的规章制度。1.8章节的顺序如下：章节Number范围1参考文献2术语3重要性和应用4使用概述5制样6测试7校准8显微照相的准备9比较法10平面法（JEFFRIES）11截点法12直线截点法13圆截点法14Hilliard单环法14．2Abrams三环法14．3统计分析15非等轴晶试样16含两相或多相及组元试样17报告18精度和偏差19关键词20附件ASTM晶粒尺寸等级基础附件A1晶粒度测量值之间的换算式附件A2铁素体与奥氏体钢的奥氏体晶粒度附件A3断口晶粒度测定方法附件A4锻铜和铜基合金的要求附件A5特殊条件的应用附件A6附录多个实验室的晶粒尺寸判定结果附录X1参考附件附录X22、参考文献2.1ASTM标准E3金相试样的制备E7金相学相关术语E407金属和合金浅腐蚀的操作E562计数法计算体积分数的方法E691通过多个实验室比较决定测试方法的精确度的方法E883反射光显微照相指南E930截面上最大晶粒的评估方法（ALA晶粒尺寸）E1181双峰分布的晶粒度测试方法E1382半自动或全自动图像分析平均晶粒度方法2.2ASTM附件2.2.1参见附录X23术语3.1定义－本标准采用的专业术语定义参照E73.2本标准中特定术语的定义：3.2.1ASTM晶粒度——G，通常定义如公式（1）NAE=2G-1（1）NAE为100倍下每平方英寸（645.16mm2）面积内包含的晶粒个数，相当于1倍下每平方毫米面积内包含的晶粒个数乘以15.5倍。3.2.2晶粒——晶界所包围的整个区域，既是二维平面原始界面内的区域或是三维物体内的原始界面内所包含的体积。对于孪生晶界的材料，孪生晶界忽略不计，因为孪生晶界两侧的组织都属于晶粒范围内。3.2.3晶界截点法——通过计数测量线与晶界相交或相切的数目来测定晶粒度（3点相交定义为1.5个交点）3.2.4晶粒截点法——通过计数测量线穿过光滑平面上晶粒的数目来测定晶粒度（相切定义为0.5个截点，测量线端点在晶粒内部定义为0.5个截点）3.2.5截线长度——测量线段通过晶粒时，与晶界相交的两个交点之间的距离。3.3符号两相显微组织中的基体晶粒测量面积截面上的平均晶粒面积晶粒伸长率和晶粒纵向伸长率平均平面晶粒直径（评级图Ⅲ）平均空间（体积）晶粒直径面积法的JEFFRIES乘数显微晶粒度级别数平均截距在两相显微组织中的基体(α)晶粒上的平均截距非等轴晶粒纵向面上平行变形方向的平均线截距非等轴晶粒横向面上垂直变形方向的平均线截距非等轴晶粒法向面上垂直变形方向的平均线截距基本长度32mm，用于在微观和宏观截线法说明G与之间关系测试线长度观测所用的放大倍数标准评级图基准放大倍数视场个...