阵列感应测井仪刻度研究根据阵列感应测井仪刻度原理,导出阵列感应测井仪电导率与刻度环串接电阻阻抗之间的关系,采用复系数电压信号刻度法,选用3种直径的刻度环在各子阵列相应的刻度点能对各子阵列进行刻度得到刻度增益值。给出了在半空间测量阵列感应测井仪线圈系误差的校正图版,介绍了仪器的刻度方法。第34卷第6期测井技术Vo.4No613.De20c0121年1月002WEII)IGGI(NGTECHNOLOGY文章编号：0413(000—56010—3821)607—5阵列感应测井仪刻度研究张群华，范宜仁，谭宝海陈涛，,王成龙江友宏，(.国石油大学，山东东营276;.1中5012中国石油集团测井有限公司技术中心，西西安707)陕107摘要：根据阵列感应测井仪刻度原理，出阵列感应测井仪电导率与刻度环串接电阻阻抗之间的关系，导采用复系数电压信号刻度法，选用3种直径的刻度环在各子阵列相应的刻度点能对各子阵列进行刻度得到刻度增益值。给出了在半空间测量阵列感应测井仪线圈系误差的校正图版，介绍了仪器的刻度方法。关键词：阵列感应测井；度系数；度环；差刻刻误中图分类号：P3.3618文献标识码：ASuyolbainoryIdutoLogngToltdnCairtofArancingioZHANQuha。Frn,TANBoa,CNaGnuANYieahiHETo,WANGCegog,JANYuo￣hnlneIGohn(.Chnnvriyotoem,Dogig,Sadn501,Chn;1iaUiestfPerlunynhnog276ia2.TehooyCetrcnlgne,ChntoemogniaPerluLgigCO.LTD.,_ia’n,Sa_107,ia)hani707ChnAbtatAcodnoclrtnpicpeoranutnlgigto,drvdiheasrc:crigtaiairnilfaryidciognoleiesterl—bootosiqainbteodciiyadieacfclrtnlo.Usnlrlofiininhpeutoewencnutvtnmpdneoaiaipbooigpuaefetccvlaesgaairtnmehdeevdaetesaegiausouraihiair—otginllaito,rcierhclanvlefsbarywhcsclacbobtdiairtooiotheidfimeesclrtoop.Prpsdaecretneclainpstnwitreknsoatraiainlosnbihdbooerorciocatoesrnhodrosoradcinlgigtonhlpcnhair—hrsfrmauigtesneerrfryiutgnolafsaeadteclaanooibtndtifaryidcinlgigto.iealoranutogno1osoKersaryidcinlgig,clrtncefin,clrtnlo,errywod:ranutognoaiaiofietaiaioprobocbo0引言阵列感应测井仪的刻度是以刻度环模拟的方法建立仪器测井读数与无传播效应时测量均匀介质的电导率之间的关系。传统双感应测井仪采用实数系数刻度方法，阵列感应测井仪和高分辨率感应测井仪刻度方法类似，采用的是复数系数刻度方法[]1。阵列感应测井仪线圈系是由多个简单线圈系子阵列的温度校正的综合研究工作。本文论述了阵列感应测井仪的刻度原理，计算了适用于仪器的刻度点位置和刻度参数，给出了在半空间测量阵列感应测并井仪线圈系误差的校正图版，同时介绍了仪器的刻度方法。1阵列感应测井刻度原理阵列感应测井仪刻度时以线圈系刻度点上一定直径的串联电阻的导电环代替几何因子理论中已知组成[,献[]3文]4中对短、中和长3个子阵列的刻度系数随刻度环半径及其在仪器轴向上所处位置的变化特性进行了研究。由于阵列感应测井仪和传统双感应测井仪或高分辨率感应测井仪相比，大探测最深度深，列感应测井仪须采用半空问刻度消除大阵地对线圈系误差测量值的影响l。现有的文献大5多是对阵列感应测井仪刻度的某一方面进行的研究，必要开展车间刻度、空间刻度和线圈系误差有半电导率的均匀地层。阵列感应测井仪器的各组接收线圈子阵列同时测量电导率的实部和虚部信号。当发射线圈中通以正弦交流电，度环中产生的感应刻电动势为Vc一一9Soi丁NT()1基金项目：中国石油天然气集团公司项目高性能成像测井系统研究部分内容(目号：0G00项631)作者简介：群华，,93年生，读硕士，要从事电法测井仪器研究。张男17在主