工频过电压耐受下氧化锌压敏电阻冲击老化性能研究张欣「2行鸿彦⑴杨天琦4宋晨曦1,2(1.南京信息工程大学江苏省气象灾害预报预警与评估协同创新中心，南京210044;2.南京信息工程大学中国气象局气溶胶与云降水重点开放实验室，南京210044;3.南京信息工程大学电子与信息工程学院，南京210044;4.南京市气象局南京市气象服务中心，南京210009)摘要：针对氧化锌压敏电阻芯片在8/20gs电流冲击初期，芯片压敏电压变化较小，老化程度无法通过静态参数判别的问题，本文设计了工频过电压耐受下的ZnO圧敏电阻冲击老化试验，研究了ZnO压敏电阻芯片不同冲击老化情况，耐受工频恒定不同幅值过电压过程和耐受阶段流经芯片内部电流几随时间的变化关系；结合双肖特基势垒理论和ZnO压敏电阻芯片Voronoi网格微观结构模型，分析试验结论。结果表明：耐受工频恒定相同幅值过电压,ZnO压敏电阻芯片经8/20ps电流冲击后老化程度越深其流过芯片内部电流心的初始值越大；且险|值随时间上升速率与初始冲击老化程度呈正比；相同老化程度ZnO圧敏电阻芯片耐受过电压幅值越大，耐受时间越短，心的初始值越大。这些可为ZnO圧敏电阻冲击老化劣化初期判别提供依据。关键词：氧化锌压敏电阻；8/20MS冲击老化；工频耐受下ZnO压敏电阻内部电流；耐受时间中图分类号:TM862文献标识码：A文章编号：1001-1390(2014)00-0000-00ResearchontheImpactAgingPerformanceoftheZincOxideVaristorToleratedunderthePowerFrequencyOvervoltageZHANGXinL2XINGHong-yan1,3YANGTian-qi4SONGChen-xik2(1・CollaborativeInnovationCenteronForecastandEvaluationofMeteorologicalDisasters,NanjingUniversityofInformationScience&Technology,Nanjing210044,China.2.KeyLaboratoryforAerosol-Cloud-PrecipitationofChinaMeteorologicalAdministration,NanjingUniversityofInformationScience&Technology,Nanjing210044,China・3.SchoolofElectronic&InfdnnationEngineering,NanjingUniversityofInformationScience&Technology,Nanjing210044,China.4.NanjingServiceCenterofMeteorology,NanjingMeteorologicalBureau,Nanjing210009,China)Abstract:TheimpactagingexperimentbasedonthetoleranceoftheZincOxidevaristorundercontinuouspowerfrequencyovervoltagewasdesignedinthispapertosolvetheproblemthatthechangeinthebreakdownvoltageofthezincoxidevaristorchipattheearlystageofthe8/20pscurrentpulseistoosmalltotelltheagingdegreeofthezincoxidevaristorchipbythestaticparameter.Differentsituationsoftheimpactaging,thetoleranceofthezincoxidevaristorunderdifferentamplitudesofovervoltageandtherelationshipbetweentheinternalcurrentduringthetolerance(An)andthetimewerestudied.ExperimentalresultswereanalyzedwiththehelpoftheDualSchottkybarriertheoryandtheVoronoigridmodel.Theresultsshowedthatthelargertheagingdegreeofthezincoxidevaristorchipimpactedbythe8/20pscurrentpulsewas,thelargertheinitialvalueof/jnwas;theincreasedrateoflinovertimewasproportionaltotheinitialimpactagingdegree;andwhentheagingsituationswereequal,thelargertheamplitudeofovervoltagewasandtheshorterthetolerancetimewas,thelargertheinitialvalueofwas・・Theseresultscanbeusedtodetenninetheaginganddeteriorationdegreeofthezincoxidevaristorchip.Keywords:zincoxidevaristor,8/20pscurrentpulseimpactaging,theinternalcurrentduringthetolerance,thetolerancetimeo引言近年来，智能电网和信息技术迅猛发展，人们对于含有高精尖电子仪器设备等大型电路的保护等级要求也H益严格。电涌保护器(SurgeProtectionDevice,SPD)作为防雷减灾中最重要的保护措施之一，能否满足防雷要求，是科研人员关注的重点［1-5］oZnO压敏电阻作为SPD核心元件之一，其特有的伏安特性，能够承受并主动泄放瞬时大电流冲击，在电涌保护技术川具有重要的意义。ZnO丿玉敏电阻冲击后老化劣化方面的研究［6山］也是热点之一。目前，对于ZnO压敏电阻...