可控硅损坏原因及关断与导通性能诊断仪研究可控硅损坏原因及关断与导通性能诊断仪研究［摘要］单向可控硅是一种可控整流电子元件，能在外部控制信号作用下市关断变为导通，但一旦导通，外部信号就无法使其关断,只能寵公除负载或降低其两端电压使其关断，目前主要采用的是万用表测试法：可控硅是三端半导体器件，依据PN结“正向导通，反向截止”的单向导电的特性，可用万用表欧姆档来测试可控硅三个电极之间的阻值，就可以初步判...
