一种全温下残影评价的测试系统研究袁烨李静潘立豹孙勇王松滨摘要：针对残影测试使用点式亮度计无法满足测试要求，面式亮度计价格昂贵且高温测试不易推广的问题，提出了一种新的残影测试系统。通过该系统对同样的样品和面亮度计进行对比测试，测试精度较高，测试误差小，测试结果一致性较好。该系统主要由电脑、光信号探测器、光电信号处理模块3部分组成，该系统可以对显示产品进行常温、高温的残影测试，系统性能可靠、操作简便...
